PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ИМАМОВ РАФИК МАМЕД

Изобретатель ИМАМОВ РАФИК МАМЕД является автором следующих патентов:

Способ исследования совершенства структуры монокристаллов

Способ исследования совершенства структуры монокристаллов

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (») 534677 (61) Дополнительное к авт. свид-ву» (22) Заявлено27.01.75 (21) 2102739/25 с присоединением заявки №(23) Приоритет (43) Опубликовано 05.11.76.Бюллетень № 41 (45) Дата опуоликования описания 02.03,77 (51) М. Кл."G 01 Н 23/20, G 01 и 23/22 Государственный комитет Совета Министр...

534677

Способ измерения параметров решетки монокристаллов и устройство для его реализации

Способ измерения параметров решетки монокристаллов и устройство для его реализации

  О П И С А Н И Е иц 584234 ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 16.08.75 (21) 2395801/18-25 с присоединением заявки № (51) M Кл г 6 01N23!20 Совета Министров СССР ло делам изобретений и открытий (43) Опубликовано 15.12.77. Бюллетень № 46 (53) УДК 621.386(088.8) (45) Дата опубликования...

584234

Рентгеновский спектрометр

Рентгеновский спектрометр

  Союз Советск и к Соцнвлистичесник Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИЯЕТЕЛЬСТВУ (»)881592 (61) Дополнительное к авт. свид-ву №- 463045 (22)Заявлено 31 01.80 (2I) 2915602/18-25 с присоединением заявки М (23) Приоритет (5l)lVL. Кл. G 01 N 23/20 ХооудзротвиивН комитет СССР оо делам иза4ретеиий н открытий Опубликовано15. 11. 81. Бюллетень М 42 Дата опубликовани...

881592

Устройство для исследования структурного совершенства тонких приповерхностных слоев монокристаллов

Устройство для исследования структурного совершенства тонких приповерхностных слоев монокристаллов

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРНОГО СОВЕРШЕНСТВА ТОНКИХ ПРИПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ МОНОКРИСТАЛЛОВ , содержащее источник рентгеновского излучения, кристалл-монохроматор , детектор дифрагированного излучения , детектор вторичной.эмиссии в виде газопроточной камеры, в которой расположены держатель образца и электрод, отличающееся тем, что, с целью расширения функциональных возможно...

1173278