ФЕДИЧКИН ГЕННАДИЙ МИХАЙЛОВИЧ
Изобретатель ФЕДИЧКИН ГЕННАДИЙ МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:
"замедляющая система для приборов свч4
Союз Советских Социалистических республик ОП ИСАНИЕ И3ОБРЕТЕН ИЯ K АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l) Дополннтельное к авт. свнд-ву (22) ЗанвлЕно11,01.77. (21) 2442226/18-25 (11) 603022 (51) М. Кл. Н 01 J 23/24 с присоединением заявки № Государственный комитет Совета Миииатроа СССР оо дохам изооратаиий и открытий {23) Приоритет (43) Опубликовано 15.04.78. Бюллетень % 1 (45) Дат...
603022Магнитооптический гистериограф
Изобретение может использоваться для контроля характеристик магнитных материалов в режиме динамического перемагничивания. Магнитооптический гистериограф содержит генератор 7 синусоидального (СИ) сигнала, источник 1 излучения, приемник 3 из- I лучения, предварительный усилитель 4, регистратор 6, преобразователь 10 тока в напряжение, намагничиваклцую обмотку 9, блок 8 формирования...
1432435Способ изготовления спеченных изделий
Изобретение относится к порошковой металлургии, в частности к способам изготовления спеченных изделий из порошков, преимущественно длинномерных. Целью изобретения является повышение качества изделий. Порошок прессуют в брикет. Между основанием, спекаемым брикетом и плитой пригруза устанавливают с зазором между собой промежуточные элементы, ширину D и зазор между которыми определяю...
1477523Устройство для измерения расстояния до металлической поверхности
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для повышения чувствительности устройства для измерения расстояния до металлической поверхности, которое содержит диэлектрическую пластину 2 с нанесенными на обеих ее поверхностях идентичными, распо1-7 ложенными соосчо симметрично проводяшими контурами - радиальными спиралями 3 и 4, которые имеют противоположные направ...
1626082Способ измерения толщины металлического покрытия на диэлектрической подложке и чувствительный элемент для его осуществления
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике, в частности к способам и устройствам для измерения толщины нанесенного на диэлектрическую подложку покрытия из металла, и может бы гь использовано преимущественно в процессе производства полупроводниковых приборов и приборов на твердом теле. Целью изобретения является повышение точности и информативности измерений. Способ и...
1635001