H01J49/14 - с использованием бомбардировки частицами, например ионизационные камеры

Масс-спектрометра

2040l3 ОПИСАНИЕ И ЗОБ Р ЕТЕН ИЯ1 К ЛВтОРСКОМ СВИДИИЛЬСтВЬ Союз Советских Социалистических Республик Зависимое от авт. свидетельства K Кл. 42L, 3/09 с присоединением заявки М МПК G 01п ! УДК 543.51(088.8) Приоритет Опубликовано 09.Х.1967. Бюллетень Ке 21 Дата опубликования описания 3.1.19б8 Комитет по делам изобретеиий и открытий при Совете Мииистрое СССР Авторы изобретен...

204013

Источник ионов

1. ИСТОЧНИК ИОНОВ, содержащий источник колли1«1рованного молекулярного пучка, источник ионизирующего излучения и ионизационную камеру , имеющую отверстия для прохождения ионизирующего излучения, закрытые экранирукздими сетками, а также . соосные отверстия для молекулярного и ионного пучков, отличающийся тем, что, с целью обогащения масс-спектра ионами исследуемлх соединений за сч...

951475

Способ послойного количественного анализа кристаллических твердых тел

Изобретение относится к массспектрометрии и может быть использовано для элементного и фазового послойного анализа кристаллических твердых тел. Цель изобретения - повышение точности и чувствительности - достигается тем, что послойное распыление мишени ионами осуществляют в диапазоне углов 1-5° к поверхности мишени, в диапазоне энергии, верхний предел которой ниже порога распыления...

1698916

Способ элементного анализа поверхностных слоев твердых тел

Использование: элементный анализ поверхностных слоев твердых тел, например, тонкопленочных структур в материалах и изделиях микроэлектроники . Сущность изобретения: способ включает распыление поверхности твердого тела пучком ионов, одновременное воздействие на распыляемую область твердого тела лазерным излучением с определенной энергией фотонов , сепарацию по массам распыленных и...

1777187

Способ определения поверхностной концентрации компонентов бинарного сплава методом термодесорбционной масс- спектрометрии

Использование: в масс-спектрометрии, в частности при анализе поверхности методом термической десорбции. Сущность изобретения: исследуемым сплавом в жидком состоянии заполняют пористый держатель, затем сплав охлаждают до кристаллизации, после чего нагревают до температуры выше температуры плавления, регистрируя при этом температуру нагрева и с помощью массспектрометра величины пар...

2000625

Ионизационная камера для анализаторов состава

Изобретение относится к области аналитического приборостроения. Техническим результатом является повышение надежности работы. Камера состоит из двух отсеков, в одном из которых, вакуумированном, установлен нерадиоактивный источник электронов, а в другом, реакционном, установлен электрод, соединенный с положительным полюсом источника ускоряющего напряжения. Толщина перегородки между двумя...

2208873

Способ ионизации анализируемых веществ в ионизационной камере анализатора состава и устройство для его осуществления

Изобретение относится к области аналитического приборостроения. Техническим результатом является повышение эксплуатационной долговечности ионизационной камеры. Камера состоит из двух отсеков, в одном создается вакуум и устанавливается источник электронов, а другой представляет собой реакционную камеру спектрометра ионной подвижности. В вакуумированном отсеке в аноде в результате бомбардир...

2208874

Источник ионов масс-спектрометра для изотопного анализа

Использование: в области аналитического приборостроения, в частности в масс-спектрометрии, и при анализе молекулярного и изотопного состава веществ, ионизованных методом электронного удара, в аналитической химии, молекулярной и атомной физике, геологии и геохронологии, медицине, экологии и других областях хозяйственной деятельности. Устройство содержит ионизационную камеру с отверстиями д...

2237945

H01J49/14 - с использованием бомбардировки частицами, например ионизационные камеры

Патенты в этой категории