PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 765672

Устройство для определения индикатрисс спектрального коэффициента отражения полупрозрачных материалов

Устройство для определения индикатрисс спектрального коэффициента отражения полупрозрачных материалов (патент 765672)