PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 1089549

Голографический способ исследования и контроля фотоэлектретных свойств фототермопластических материалов на основе полимерных полупроводников

Голографический способ исследования и контроля фотоэлектретных свойств фототермопластических материалов на основе полимерных полупроводников (патент 1089549)