PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 1092436

Способ определения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниковых приборах с @ - @ переходами

Способ определения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниковых приборах с @ - @ переходами (патент 1092436)