PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 1170270

Фотоэлектрическое устройство для контроля толщины пленок оптических покрытий в процессе их изготовления

Фотоэлектрическое устройство для контроля толщины пленок оптических покрытий в процессе их изготовления (патент 1170270)