PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 1223074

Способ определения частотной характеристики испытуемого объекта и устройство для его осуществления

Способ определения частотной характеристики испытуемого объекта и устройство для его осуществления (патент 1223074)