PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 1254320

Высокочастотный динамометр для измерения динамических характеристик процесса микрорезания

Высокочастотный динамометр для измерения динамических характеристик процесса микрорезания (патент 1254320)