PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 1439479

Способ изготовления образца с имитатором подповерхностного дефекта для неразрушающего контроля с помощью зондирующего поля

Способ изготовления образца с имитатором подповерхностного дефекта для неразрушающего контроля с помощью зондирующего поля (патент 1439479)