PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 1705337

Система автоматического контроля качественных показателей процесса выращивания микроорганизмов

Система автоматического контроля качественных показателей процесса выращивания микроорганизмов (патент 1705337)