PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 1753262

Способ измерения углов отклонения лучей в фазовом объекте, зарегистрированном на голограмму

Способ измерения углов отклонения лучей в фазовом объекте, зарегистрированном на голограмму (патент 1753262)