PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 1778821

Способ бесконтактного измерения времени жизни неравновесных носителей тока в полупроводниках

Способ бесконтактного измерения времени жизни неравновесных носителей тока в полупроводниках (патент 1778821)