PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 1817157

Устройство для измерения частотно-контрастных характеристик электронно-лучевых трубок с длительным послесвечением

Устройство для измерения частотно-контрастных характеристик электронно-лучевых трубок с длительным послесвечением (патент 1817157)