PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2253087

Способ выявления механизма образования аддитивной температурной погрешности тензорезисторных датчиков давления с мостовой измерительной цепью

Способ выявления механизма образования аддитивной температурной погрешности тензорезисторных датчиков давления с мостовой измерительной цепью (патент 2253087)