PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2300758

Способ дифференциального дилатометрического экспресс-анализа образцов исследуемых материалов в контрастных структурных состояниях

Способ дифференциального дилатометрического экспресс-анализа образцов исследуемых материалов в контрастных структурных состояниях (патент 2300758)