Иллюстрации к патенту
2326368
Способ измерения параметров структуры "металлическая пленка - полупроводниковая или диэлектрическая подложка"
![Способ измерения параметров структуры "металлическая пленка - полупроводниковая или диэлектрическая подложка" (патент 2326368)](https://img.patentdb.ru/i/1000x1000/cca9d13bd56c206a4e17eaaa9bad62fd.jpg "Способ измерения параметров структуры "металлическая пленка - полупроводниковая или диэлектрическая подложка" (патент 2326368)")
