PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2335735

Тестовая структура для оценки радиуса кривизны острия иглы кантилевера сканирующей зондовой микроскопии

Тестовая структура для оценки радиуса кривизны острия иглы кантилевера сканирующей зондовой микроскопии (патент 2335735)