Иллюстрации к патенту
2349904
Способ измерения электрофизических параметров структуры "нанометровая металлическая пленка - полупроводниковая или диэлектрическая подложка"
![Способ измерения электрофизических параметров структуры "нанометровая металлическая пленка - полупроводниковая или диэлектрическая подложка" (патент 2349904)](https://img.patentdb.ru/i/1000x1000/6607a5d0deee794f7e9df35bc4b2b7ad.jpg "Способ измерения электрофизических параметров структуры "нанометровая металлическая пленка - полупроводниковая или диэлектрическая подложка" (патент 2349904)")
