PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2387974

Способ фотометрической диагностики структурного состояния материалов по данным анализа цифрового кодированного изображения их поверхности

Способ фотометрической диагностики структурного состояния материалов по данным анализа цифрового кодированного изображения их поверхности (патент 2387974)