PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2457536

Способ выбора модели исследуемой системы на основании вычисленных энтропийных потенциалов ее событий и устройство для осуществления этого способа

Способ выбора модели исследуемой системы на основании вычисленных энтропийных потенциалов ее событий и устройство для осуществления этого способа (патент 2457536)