PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2463620

Способ измерения распределения векторной функции магнитной индукции периодического магнитного поля

Способ измерения распределения векторной функции магнитной индукции периодического магнитного поля (патент 2463620)