PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2519826

Тестовый объект для калибровки микроскопов в микрометровом и нанометровом диапазонах

Тестовый объект для калибровки микроскопов в микрометровом и нанометровом диапазонах (патент 2519826)