PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2442143

Способ создания образцовых мер для неразрушающих спектроскопических методов определения концентрации примеси в кристаллах

Способ создания образцовых мер для неразрушающих спектроскопических методов определения концентрации примеси в кристаллах (патент 2442143)