PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2451298

Устройство для измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках

Устройство для измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках (патент 2451298)