PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2544361

Устройство для измерения структуры аксиально-симметричного переменного магнитного поля

Устройство для измерения структуры аксиально-симметричного переменного магнитного поля (патент 2544361)