PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2564472

Способ определения локальных доз ионизирующих излучений космического пространства за защитными экранами с аналитической формой поверхности

Способ определения локальных доз ионизирующих излучений космического пространства за защитными экранами с аналитической формой поверхности (патент 2564472)