PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2572843

Способ улучшения характеристик измерения азимута наземных целей с учетом отражений от подстилающей поверхности

Способ улучшения характеристик измерения азимута наземных целей с учетом отражений от подстилающей поверхности (патент 2572843)