PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2577561

Способ измерения структуры импульсной функции отклика во времени в неоднородной среде

Способ измерения структуры импульсной функции отклика во времени в неоднородной среде (патент 2577561)