PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 375535

Низкотемпературная приставка к рентгеновскому дифрактометру для рентгеноструктурных исследовании материалов

Низкотемпературная приставка к рентгеновскому дифрактометру для рентгеноструктурных исследовании материалов (патент 375535)