PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2617453

Способ оценки параметров побочного электромагнитного излучения от элементов средств вычислительной техники

Способ оценки параметров побочного электромагнитного излучения от элементов средств вычислительной техники (патент 2617453)