PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2644716

Способ оценки натяжения в апоневротическом слое лапаротомной раны и устройство для его осуществления

Способ оценки натяжения в апоневротическом слое лапаротомной раны и устройство для его осуществления (патент 2644716)