PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2658098

Дифракционный способ определения внутренних дефектов изделий, выполненных по аддитивной технологии

Дифракционный способ определения внутренних дефектов изделий, выполненных по аддитивной технологии (патент 2658098)