PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 2665186

Оптимизация стенда для испытаний на малоцикловую усталость или на малоцикловую и многоцикловую усталость

Оптимизация стенда для испытаний на малоцикловую усталость или на малоцикловую и многоцикловую усталость (патент 2665186)