PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Иллюстрации к патенту 433434

Устройствоjum опр!нейтронноикомпон1луч1f1изобретение относится к устройствам, предназначенным для разделения потока нейтронов космических лучей по энергиям, регистрируемого нейтронным монитором или супермонитором станции космических лучей. данные регистраторов кратностей используются при излучении вариаций космических лучей., определение кратностей нейт-» ронной компоненты космических лучей основано на том.что первичный, нейтрон, попадая в тело датчика нейтронного монитора, вызывает ге-т нерацию некоторого числа вторичных нейтронов, имеющих общее название "звезда*, которые регистрируются счетчиками. чем больше энергия пришедшего первичного • нейтрона, тем больше вторичных нейтронов в "звезде", тем больше число их зарегистрируется счетчиками, т.е. тем больше кратность зарегистрированной "звезды" (одноч кратные, двукратные и т.д. "звезрс ды").101520подсчет количества нейтронов в "звезде", т.е. определение её кратности, производится в течени^ определенного времени сбора ''тс , которое выбирается несколько большим времени ?ивни "звездц" в датчике нейтронного монитора, отсчет времени сбора тс начина-» ется от момента регистрации счет^ чиками первого нейтрона регистри'п руемой "звезды".известно устройство для определения кратностей нейтронной компоненты космических лучей - по авт.св. № 335636, статистичес>& ки полно исключающее р выходных данных влияние эффекта двойных совпадений.такое устройство содержит фор«1ирователи основного вршени сбора, форлирователь времени задержки, формирователь контрольного времени и формирователь компенсйрущез?с) времени cso]^, соединенные последовательно, подсчитываюпше кратность регистрир!уе-

Устройствоjum опр!нейтронноикомпон1луч1f1изобретение относится к устройствам, предназначенным для разделения потока нейтронов космических лучей по энергиям, регистрируемого нейтронным монитором или супермонитором станции космических лучей. данные регистраторов кратностей используются при излучении вариаций космических лучей., определение кратностей нейт-» ронной компоненты космических лучей основано на том.что первичный, нейтрон, попадая в тело датчика нейтронного монитора, вызывает ге-т нерацию некоторого числа вторичных нейтронов, имеющих общее название "звезда*, которые регистрируются счетчиками. чем больше энергия пришедшего первичного • нейтрона, тем больше вторичных нейтронов в "звезде", тем больше число их зарегистрируется счетчиками, т.е. тем больше кратность зарегистрированной "звезды" (одноч кратные, двукратные и т.д. "звезрс ды").101520подсчет количества нейтронов в "звезде", т.е. определение её кратности, производится в течени^ определенного времени сбора ''тс , которое выбирается несколько большим времени ?ивни "звездц" в датчике нейтронного монитора, отсчет времени сбора тс начина-» ется от момента регистрации счет^ чиками первого нейтрона регистри'п руемой "звезды".известно устройство для определения кратностей нейтронной компоненты космических лучей - по авт.св. № 335636, статистичес>& ки полно исключающее р выходных данных влияние эффекта двойных совпадений.такое устройство содержит фор«1ирователи основного вршени сбора, форлирователь времени задержки, формирователь контрольного времени и формирователь компенсйрущез?с) времени cso]^, соединенные последовательно, подсчитываюпше кратность регистрир!уе- (патент 433434)