PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЗАО "НИИИН МНПО "Спектр" (RU)

ЗАО "НИИИН МНПО "Спектр" (RU) является правообладателем следующих патентов:

Способ контроля качества дефектоскопических материалов

Способ контроля качества дефектоскопических материалов

Изобретение относится к способам неразрушающего контроля с использованием проникающих веществ. Способ состоит в том, что тест-объект обрабатывают набором дефектоскопических материалов, позиционируют в темновой камере, освещают излучением в видимом диапазоне спектра и фиксируют изображение индикаций дефектов при помощи цифровой фотокамеры. Затем удаляют дефектоскопические материалы с поверхности те...

2331059

Устройство для обнаружения и измерения поверхностных дефектов

Устройство для обнаружения и измерения поверхностных дефектов

Устройство для обнаружения и измерения поверхностных дефектов содержит цилиндрический корпус с последовательно расположенными внутри него вдоль его продольной оси широкоугольным объективом панорамного обзора, осветительной системой, состоящей из светодиодов, расположенных вокруг широкоугольного объектива панорамного обзора в плоскости, перпендикулярной его оптической оси, и ПЗС-матрицы, расположен...

2335734