Кумыков Вячеслав Каншаубиевич (RU)

Изобретение относится к области производства различных полупроводниковых элементов и предназначено для получения керамики с металлизированной поверхностью. На поверхность керамического элемента методом вакуумного напыления наносят слой металла, толщина которого не превышает 0,01 толщины керамического элемента. Затем осуществляют фотонный отжиг покрытия сфокусированным некогерентным излучением от к...

Изобретение относится к области производства различных полупроводниковых элементов и предназначено для получения керамики с металлизированной поверхностью. На поверхность керамики методом вакуумного напыления наносят буферный слой металлического покрытия с низкой температурой плавления, а затем наносят основной внешний слой металлического покрытия с более высокой температурой плавления, чем у буфе...

Изобретение относится к техническим средствам измерения физико-химических констант металлов в твердом состоянии, а именно их поверхностного натяжения. Техническим результатом изобретения является повышение точности измерения, сокращение времени эксперимента, а также обеспечение возможности проведения измерений при высоких температурах. Устройство содержит вакуумную камеру, в которой размещен верти...

Изобретение относится к способам и техническим средствам измерения физико-химических констант вещества, а именно поверхностного натяжения металлов в твердой фазе. Техническим результатом изобретения является повышение точности измерения. Способ измерения поверхностного натяжения металлов в твердой фазе включает нагрев нитеобразного образца в локальной точке до заданной температуры ползучести путем...