ЗАО "НТ-МДТ" (RU)

Изобретение относится к устройствам, обеспечивающим защиту прецизионных устройств от внешних силовых воздействий, таких как вибрации, толчки и т.д. Магнитный демпфер содержит основание, подвесы, закрепленные на основании, содержащие виброгасители, в состав которых входят упругие элементы растяжения, соединенные с подвижной платформой, а также магниты, расположенные по замкнутой линии, и проводящий...

Изобретение относится к области туннельной и атомно-силовой микроскопии, а точнее к устройствам, обеспечивающим градуировку сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ). Сущность изобретения заключается в том, что в тестовой структуре для градуировки СЗМ, состоящей из основания и расположенных на нем искусственных упорядоченных микроструктур с известными геометрическими параметрами, в качестве искусстве...

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов. Сущность изобретения заключается в том, что в многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа, содержащий основание, на котором закреплены консоли с зондами на концах, введена платформа, основание выпо...

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) физических характеристик поверхности объектов с одновременным оптическим наблюдением зоны сканирования. Сущность изобретения состоит в том, что в СЗМ, совмещенном с оптическим микроскопом (ОМ), который содержит основание, зонд, пьезосканер, держатель объекта с объектом,...

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим поддержание температуры образцов в широком диапазоне при измерении и других технологических операциях в сканирующих зондовых микроскопах (СЗМ). Предлагаемое изобретение целесообразно использовать в вакуумном оборудовании. Сущность изобретения заключается в том, что устройство поддержания темп...

Изобретение относится к нанотехнологии, к устройствам, обеспечивающим анализ и модификацию поверхности образцов в жидкой среде с использованием методов сканирующей зондовой микроскопии. Сканирующий зондовый микроскоп с электрохимической ячейкой содержит держатель образца, первую платформу, на которой установлен корпус, пьезосканер. Между корпусом и пьезосканером размещена эластичная мембрана, устр...

Изобретение относится к сканирующей зондовой микроскопии. Пьезосканер содержит основание, на котором закреплена пьезотрубка со сквозными пазами, выполненными вдоль продольной оси симметрии пьезотрубки и образующими четыре фрагмента. На каждом фрагменте пьезотрубки сформированы основные электроды. Внутренние электроды расположены напротив наружных электродов. На противоположной стороне от основания...

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии. В многозондовом датчике консольного типа содержится основание, плоские гибкие консоли с управляющими приводами и кремниевыми зондами. Кремниевый зонд содержит пьедестал. Пьедестал выполнен в виде призмы, одной боковой гранью закрепленной на плоской гибкой консоли. Противоположная грань параллельна плоскости консоли. Основания образо...

Изобретение относится к сканирующим зондовым микроскопам, к устройствам, обеспечивающим взаимные перемещения зонда и сканируемого образца. Сканирующий зондовый микроскоп с эквивалентом сканера содержит трубчатый сканер, эквивалент сканера, выполненный в виде механически независимых трубчатых элементов перемещений. Эквивалент сканера содержит датчики перемещений. Сканер и элементы перемещений эквив...

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а именно к устройствам, обеспечивающим получение информации о поверхности образцов и модификацию поверхности образцов в туннельном и атомно-силовом режимах в сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ). Силовой зонд на основе кварцевого резонатора для сканирующего зондового микроскопа содержит кварцевый резонатор с иглой, закрепленной на плоскос...

Устройство относится к области криогенной техники и может быть использовано для охлаждения объектов измерений. Криогенный ввод содержит теплообменник с держателем объекта. Теплообменник расположен в вакуумной камере. Теплообменник соединен с первым трубопроводом для подачи хладагента и со вторым трубопроводом для отвода хладагента. Трубопроводы подключены к источнику хладагента. Места соединения т...

Изобретение относится к нанотехнологии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим перемещения объекта по трем координатам (X, Y, Z) и точную повторяемость положений объекта при его переустановке, например для перемещения образцов, держателей образцов, зондов и других элементов в сканирующей зондовой микроскопии. Изобретение направлено на обеспечение широкого диапазона перемещения по всем тре...

Изобретение относится к устройствам для микроперемещения объекта в плоскости по двум координатам, в частности для перемещения образцов, держателей образцов и других элементов в сканирующей зондовой микроскопии. Координатный стол содержит платформу, на которой установлена каретка с основанием, закреплены первый и второй приводы соответственно по первой и второй координатам, а также первый и второй...

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию. Малогабаритный сканирующий зондовый микроскоп содержит привод, опорный фланец. Опорный фланец сопряжен соединительным элементом с измерительной головкой. Измерительная головка включает держатель образца с образцом, держатель зонда с зондом, механизм их предварительного сближения, пьезосканер. Механизм предварительного сближения зонда с обр...

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии и. может быть использовано для возбуждения механических колебаний зонда. Устройство содержит держатель кантилевера с кантилевером, включающим основание с гибкой балкой, источник возбуждения колебаний гибкой балки относительно образца, блок поддержания положения гибкой балки, второй электрод. На гибкой балке сформированы первая и втор...

Изобретение относится к области биологии и биобезопасности. Предложен способ детекции токсичных белков на основе сканирующей зондовой микроскопии. Способ предусматривает взаимодействия антитоксичного моноклонального антитела с токсичным белком, образование и анализ размеров кластеров, а также выявление токсичных белков при повышении размеров кластеров над размерами токсичных белков. Предложенный с...

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к приборам для исследования образцов на атомарном уровне в условиях сверхнизких температур. Криогенный сканирующий зондовый микроскоп содержит первый фланец, на котором установлены привод вращения со штоком, а также линейный привод с первым захватом, ориентирующее устройство, второй фланец, систему виброзащиты, держатель зонда с зон...

Изобретение относится к магнитно-силовым сканирующим зондовым микроскопам (МСМ) и может быть использовано для измерения локальных магнитных характеристик образца с нанометровым разрешением во внешнем магнитном поле. Согласно изобретению, магнитно-силовой микроскоп с переменным магнитом содержит блок управления, держатель зондового датчика с зондовым датчиком и держатель образца, установленные с во...

Изобретение относится к сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к способам измерения отклонения консоли зонда сканирующего зондового микроскопа (СЗМ), оснащенного оптическим объективом для наблюдения исследуемой области образца. Формирование луча от источника света, направление его через оптический объектив на отражающую поверхность консоли зонда, получение с использованием оптического...

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа рельефа, линейных размеров и физических характеристик поверхности объектов в режимах сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа и близкопольного оптического микроскопа. Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством механической модификации пов...

Изобретение относится к нанотехнологии, а более конкретно к устройствам перемещения по трем координатам. Например, устройство перемещения может быть использовано в качестве сканера в зондовой микроскопии. В устройстве перемещения, состоящем из основания с закрепленным на нем одним концом совмещенным узлом блока перемещения по одной координате (Z) и блока перемещений по двум взаимно перпендикулярны...

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа рельефа, линейных размеров и физических характеристик поверхности объектов в режимах сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, близкопольного оптического микроскопа и др. Объект устанавливают на первом пьезосканере. Над исследуемой поверхностью объекта пом...

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров, физических характеристик поверхности и распределения этих характеристик в объеме объекта путем срезания тонких слоев объекта с последующим исследованием вновь образованных поверхностей объекта. СЗМ, совмещенный с устройством срезания тонких с...

Изобретение относится к сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к системам измерения емкости между зондом и образцом из металла или полупроводника, покрытого тонким слоем диэлектрика. Зонд состоит из консоли с укрепленной на одном ее конце иглой, закрепленной на чипе другой стороной. Зонд имеет проводящий слой на поверхности зонда со стороны иглы. Устанавливают проводящий экран, отделе...

Изобретение относится к нанотехнологии, более конкретно к устройствам, обеспечивающим получение информации о состоянии поверхности с использованием сканирующей зондовой микроскопии. Сущность изобретения заключается в том, что в зондовом датчике на основе кварцевого резонатора для сканирующего зондового микроскопа, содержащем платформу с закрепленным на ней кварцевым резонатором с основанием, на пл...

Изобретение относится к нанотехнологии, а именно к устройствам, обеспечивающим получение информации о состоянии поверхности с использованием сканирующей зондовой микроскопии. Сущность изобретения заключается в том, что зонд на основе кварцевого резонатора для сканирующего зондового микроскопа содержит кварцевый резонатор с первым и вторым плечами, на которых закреплены соответственно первая и втор...

Изобретение касается области туннельной и атомно-силовой микроскопии и описывает способ изготовления композитных кантилеверов для СЗМ с консолью из нитрида кремния и с кремниевой иглой. Предлагаемый способ включает в себя формирование из массива кремния вокруг служебных углублений оснований игл, соединяющих кремниевые иглы и консоли из нитрида кремния, что позволяет упростить технологический контр...

Изобретение относится к нанотехнологии и сканирующей зондовой микроскопии. Технический результат направлен на повышение чувствительности устройства и расширение его функциональных возможностей. Резонансное устройство на основе кварцевого резонатора для сканирующего зондового микроскопа содержит держатель кварцевого резонатора, кварцевый резонатор с двумя плечами, с электрическими выводами и закр...