PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ГОУ Московский государственный институт электронной техники (технический университет) (RU)

ГОУ Московский государственный институт электронной техники (технический университет) (RU) является правообладателем следующих патентов:

Способ изготовления полупроводникового прибора

Способ изготовления полупроводникового прибора

Изобретение относится к электронной технике, а более конкретно к технологии изготовления интегральной схемы на кремнии. Сущность изобретения: способ включает формирование на подложке активных областей приборов, маскирование, вскрытие контактных окон к активным областям, формирование системы металлизации, содержащей аморфный металлид, который обладает отрицательной теплотой смешения, а его компонен...

2250533

Способ заполнения углублений проводящим материалом

Способ заполнения углублений проводящим материалом

Использование: микро- и наноэлектроника, микро- и наномеханика, где используются изолированные диэлектриком проводники. Сущность изобретения: в способе заполнения в твердом теле углублений проводящим материалом, включающем нанесение на поверхность твердого тела, дно и боковые стенки указанных углублений первого слоя, который является барьерным материалом, предотвращающим диффузию указанного провод...

2258274

Датчик слабого магнитного поля на основе сверхпроводящей пленки

Датчик слабого магнитного поля на основе сверхпроводящей пленки

Использование: в области криоэлектроники, для создания тонкопленочных криогенных устройств на сверхпроводниках. Сущность изобретения: датчик слабого магнитного поля содержит диэлектрическую подложку из сапфира и магниточувствительный элемент, в качестве которого использована гетероэпитаксиальная ниобиевая пленка. Техническим результатом заявленного изобретения является понижение пороговой чувствит...

2258275

Способ газофазного наращивания эпитаксиальных слоев кремния

Способ газофазного наращивания эпитаксиальных слоев кремния

Использование: в кремниевой технологии для получения структур полупроводниковых приборов. Сущность изобретения: в способе газофазного наращивания эпитаксиальных слоев кремния в каждом ряду подложек создают температурный градиент, при котором верхняя часть подложек каждого ряда нагрета на 10 К меньше, чем нижняя, рост ведется при температуре, на 10-20 К меньшей, чем температура предварительного тра...

2275711