PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Закрытое акционерное общество "СЕМ технолоджи" (RU)

Закрытое акционерное общество "СЕМ технолоджи" (RU) является правообладателем следующих патентов:

Портативный импульсный прибор для электротерапии

Портативный импульсный прибор для электротерапии

Изобретение относится к средствам электростимулирующего воздействия на человека в целях терапии, например коррекции стрессовых состояний. Прибор содержит источник питания, последовательно соединенные микропроцессор, усилитель и блок управления параметрами выходного сигнала. Выход блока управления параметрами выходного сигнала через аналого-цифровой преобразователь подключен ко входу микропроцессор...

2281129

Устройство для регулирования физиологических процессов в биологическом объекте

Устройство для регулирования физиологических процессов в биологическом объекте

Изобретение относится к устройствам для электромагнитного воздействия на биологический объект и может быть использовано в медицине и ветеринарии для изменения биологической активности биологических объектов. Изобретение направлено на создание компактного устройства, формирующего излучение, частотный диапазон которого наиболее полно соответствует частотному диапазону патогенного фактора, имеющего м...

2341851

Способ инактивации микроорганизмов биоцидами (варианты)

Способ инактивации микроорганизмов биоцидами (варианты)

Изобретение относится к области медицины, пищевой промышленности, сельского хозяйства и других областей, в которых необходимо предотвращение развития патогенных микроорганизмов. Способ основан на инактивации микроорганизмов путем воздействия на сферу обитания микроорганизмов активированным раствором биоцида. В соответствии с первым вариантом раствор биоцида активизируют электромагнитным излучением...

2343707

Способ определения реакции материала на внешнее воздействие

Способ определения реакции материала на внешнее воздействие

Изобретение относится к области исследования физико-химического состояния материалов при изучении механизма воздействия внешних факторов и может быть использовано для контроля качества материалов при создании новых материалов, в том числе, на основе нанотехнологий. Способ основан на анализе надмолекулярной структуры материала до и после внешнего воздействия. При анализе надмолекулярной структуры...

2373521