Способ определения тангенса угла диэлектрических потерь материала покрытий
Патент 1247782
Авторы
Классы МПК
Способ определения тангенса угла диэлектрических потерь материала покрытий
Иллюстрации
Реферат
Изобретение относится к области электроизмерений. Может быть использовано при определении диэлектрических характеристик на переменном токе пленок и покрытий.. Целью изобретения является повьшение точности определения tg5 материала покрытий на проводящей подложке, обусловленного электрическими потерями в обкладке конденсатора, и расширение частотного диапазона измерений. Определение tgS согласно данному способу проводят следующим образом линейный контакт 4 располагают по всей ширине обкладки 3, параллельно ее поперечной оси симметрии. Выполняют два измерения тангенса угла активных потерь конденсатора, образованного .обкладкой 3 и подложкой 2, подключая обкладку при втором измерении в месте, расположенном симметрично месту первого подключения относительно той же оси симметрии, Тангенс угла диэлектрических потерь материала покрытий рассчитывают по формуле, приведенной в описании изобретения, 1 ил. i СО ISD ij Kj 00 ю
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИН
Ф (51)4 С 01 R 27/26
3СЕСМ(1 "
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
Н А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
13;,, „13
56%ЛНОТ А
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР
ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИИ И ОТНРЫТИЙ (21) 3849549/24-21 (22) 28.01.85 (46) 30.07.86. Бюл. У 28 (71) Институт механики металлополимерных систем АН БССР (72) Е.М.Толстопятов (53) 621.317.335 (088.8) (56) Антонов С.Н. Определение тангенса угла диэлектрических потерь и диэлектрической проницаемости тонких пленок — Пластические массы, 1969, N - 11, с.64-65.
Мапп Н.Т. Electrical properties
of thin polymer films. Part I, Thickness 500-2500 А. — J. Appl.
Phys, .1964, vol. 35, Й=. 7, р.21732179. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТАНГЕНСА
УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ МАТЕ° РИАЛА ПОКРЫТИЙ (57) Изобретение относится к области электроизмерений. Может быть использовано при определении диэлектÄÄSUÄÄ 1247782 А1 рических характеристик на переменном токе пленок и покрытий.. Целью изобретения является повышение точности определения tg8 материала по. крытий на проводящей подложке, обусловленного электрическими потерями в обкладке конденсатора, и расширение частотного диапазона измерений. Определение tg3 согласно данному способу проводят следующим образом: линейный контакт 4 располагают по всей ширине обкладки 3, параллельно ее поперечной оси симметрии. Выполняют два измерения тангенса угла активных потерь конденсатора, образованного .обкладкой 3 и подложкой 2, подключая обкладку при втором измерении в месте, расположенном симметрично месту. первого подключения относительно той же оси симметрии.
Тангенс угла диэлектрических потерь материала покрытий рассчитывают по формуле, приведенной в описании изобретения 1 ил
1247782
tg
А, (Ьз+ э ) А,(Ьз «.dg )
Ьз +11з Ьз 1э и 1 где А, и А — тангенс угла активных потерь конденсатора при первом и втором измерениях, соответ-
45 ственно;
Ь,,d и Ь,d — расстояния от линейного контакта до границ обкладки соответственно при первом и втором измерениях. где A и А — тангенс угла активных потерь конденсатора .
Составитель Н.гринов
Редактор Н.Швыдкая Техред В.Кадар
Корректор М,Демчик
Заказ 4119/44 . Тираж 728 . Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Изобретение относится к электроизмерениям и может быть использовано при проведении диэлектрических характеристик на переменном токе пленок и покрытий. 5
Целью изобретения является повышение точности определения tg8 материала покрытий на проводящей подложке обусловленной электрическими потерями в обкладке конденсатора и 10 расширение частотного диапазона измерений.
На чертеже показана схема, реализующая способ определения тангенса угла диэлектрических потерь материала покрытий.
Схема содержит измеритель 1 тангенса диэлектрических потерь, проводящую подложку 2, обкладку 3, линейный контакт 4. 20
Линейный контакт 4 и проводящая подложка 2 подключены к входным клеммам измерителя 1 тангенса угла диэлектрических потерь, а обкладка 3 анесена а покрытие проводящей под- 25 ложки 2. Обкладка 3 выполнена прямоугольной с соотношением сторон
1:(4-10).
Определение тангенса для диэлектрических потерь материала покрытий З0 проводят следующим образом.
Линейный контакт 4 располагают по всей ширине обкладки 3, параллельно ее поперечной оси симметрии. Выполняют два измерения тангенса угла активных потерь конденсатора, образованного обкладкой 3 и проводящей подложкой 2, подключая обкладку при втором измерении в месте, расположенном несимметрично месту первого подклю- 40 чения относительно той же оси симметрии. Тангенс угла диэлектрических потерь материала покрытия рассчитывают, используя результаты измерений, по формуле с 8 — 1 2.
A„(Ьз «. dg) Aq (bç «.dç )
Ьз «.Дз Ьэ 11з
2 1 1 1 при первом и втором измерении соответственно;
Ъ Й1и Ьз дз — РасстоЯния QT линейного контакта до границ обкладки при первом и втором измерениях.
Формула изобретения
Способ определения тангенса угла диэлектрических потерь материала покрытий на проводящей подложке,заключающийся в измерении тангенса угла активных потерь конденсатора, образованного подложкой, покрытием и нанесенной поверх него обкладкой, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и расширения частотного диапазона измерений, обкладка выполнена прямоугольной и включена в измерительную цепь электродом с линейным контактом по всей ширине обкладки, расположенным параллельно одной из осей симметрии обкладки, и дополнительно измеряют тангенс. угла активных потерь конденсатора, подключая обкладку электродом в месте, расположенном несимметрично с местом первого подключения относительно той же оси симметрии, а тангенс угла диэлектрических потерь материала покрытия. рассчитывают по формуле
Производственно-полиграфическое предприятие, r.Óæãîðîä, ул. Проектная, 4