Устройство для измерения коэффициента отражения образцов

Устройство для измерения коэффициента отражения образцов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для измерения коэффициента отражения образцов из оптических и иных материалов. Цель - расширение спектрального диапазона измерений в сторону ультрафиолетового излучения и упрощение конструкции. Для обеспечения работы в области вакуумного ультрафиолета окна вакуумного фотоэлемента изготовлены из фтористого магния, полупрозрачный фотокатод нанесен на внутреннюю поверхность выходного окна , анод вьтолнен в виде кольца, воздушные зазоры между источником излучения и входным окном фотоэлемента , а также выходным окном и поверхностью образца минимизированы. Сигнал образуется эмиссией электронов при первом падении излучения на фотокатод и после отражения от контролируемого образца или эталона. 1 ил. с 9 (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 4021514/24-25 (22) 17.02.86 (46) 15.05.88, Бюл. У 18 (72) В.Н.Кузьмин, О.M.Ìèõàéëîâ и Е.И.Шибаров (53) 535.242(088.8) (56) Гуревич М.М. Фотометрия. Л., 1983, с. 217-219.

ФМШ-56М. Техническое описание и инструкция по эксплуатации, M., 1971, с. 3-29. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ ОБРАЗЦОВ (57) Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для измерения коэффициента отражения образцов из оптических

„„SU„„1396009 А1 (51)4 С 01 N 21/55 и иных материалов. Цель — расширение спектрального диапазона измерений в сторону ультрафиолетового излучения и упрощение конструкции. Для обеспечения работы в области вакуумного ультрафиолета окна вакуумного фотоэлемента изготовлены из фтористого магния, полупрозрачный @отокатод нанесен на внутреннюю поверхность выходного окна, анод выполнен в виде кольца, воздушные зазоры между источником излучения и входным окном фотоэлемента, а также выходным окном и поверхностью образца минимизированы. Сигнал образуется эмиссией электронов при первом падении излучения на фотокатод и после отражения от контролируемого образца или эталона. 1 ил.

1396009

Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для измерений коэффициентa отражения образцов оптических и нных материалов °

Цель изобретения — расширение спектрального диапазона измерений в сторону ультрафиолетового излучения и упрощение конструкции устройства.

На чертеже изображено предлагаемое устройство.

Устройство состоит из осветителя„ содержащего источник 1 излучения и оптическую систему 2 (например, вакуумный монохроматор)., вакуумного фотоэлемента 3 и плоского входного окНа 4, которое перпендикулярно оптической оси осветителя, Внутри фотоэлемента (примерно на половине его 20 с длины) установлен кол:ьцевой анод 5.

Полупрозрачный фотокатод 6 нанесен, например, вакуумным напылением на внутреннюю поверхность выходного окна 7, параллельного входному. Непос- 25 редственно за выходным окном помещена подвижная кассета 8,, фиксируемая в положениях I u II (псказано пунктиром), в которой закреплены отражающие измеряемый образец 9 и образец-эталон И

10.

Устройство работает следующим образом.

Излучение от источника 1, полихроматическое или монохроматическое

35 (MoHoxpoMBTop на чертеже не показан), через оптическую систему ? направляется во входное окно 4 вакуумного фотоэлемента 3 и попадает на фотокатод 6, нанесенный на внутреннюю по И1 верхность выходного окна 7. Входное и выходное окна изготовлены из фтос.. ристого магния. При размещении кассеты 8 в положении I час:ть излучения поглощается фотокатодом и вызывает эмиссию электронов на анод 5, а часть — проходит сквозь фотокатод и выходное окно, отражается образцом 9, снова попадает на фотокатод и вызывает дополнительную эмиссию

50 электронов и, следовательно, приращение сигнала фотоэлемента. При размещении кассеты в положении ТХ про" шедшее фотокатод излучение отражается образцом-эталоном 10 и снова попадает на фотокатод. Следовательно, коэффициент отражения образца 9 можно рассчитать из соотношепия

Р;„Р где 1, и 1, — сигналы фотоэлемента при размещении кассеты в положениях I u II соответственно .,„ — коэффициент отражения образца-эталона.

Преимущества предлагаемого устройства (no сравнению с известными) заключаются в следующем: упрощена конструкция устройства

f так как в нем отсутствует конструктивно сложный и нетехнологичный элемент устройства — интегрирующая сфера", расширен спектральный диапазон измерений в сторону ультрафиолетового излучения с захватом вакуумного ультрафиолета (длина волны менее 180 нм), так как измеряемый и эталонный образцы в устройстве устанавливаются вплотную к вьгкодному окну вакуумного фотоэлемента так же, как вплотную к входному окну фотоэлемента устанавливается выходное окно вакуумного монохроматора, например BMP-1, либо выходное окно из MgF газоразрядной лампы

ВМФС-25. Таким образом, воздушные промежутки, поглощающие УФ-излучение,минимиэируются.

Формула и з о б р е т е н и я

Устройство для измерения коэффициента отражения образцов, содержащее источник излучения, расположенные по ходу излучения оптическую систему и фотоприемник, выполненный в виде вакуумного фотоэлемента, содержащего входное и выходное окна, фотокатод и анод, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью расширения спектральног o диапазона измерений в сторону ультрафиолетового излучения и упрощения конструкции, в него введена подвюкная кассета, а полупрозрачньп фотокатод нанесен на внутренней поверхности выходного окна фотоэлемента, анод выполнен в виде кольца, располо/ женного параллельно плоскостям входного и выходного окон между ними,при этом подвижная кассета расположена за выходным окном фотоэлемента и снабжена механизмом фиксации в двух положениях и посадочными местами для измеряемого и эталонногд образца с возможностью их установки вплотную к выходному окну.!

396009

Составитель И.Никулин

Техред И.Дидьщ Корректор Л.Пилипенко

Редактор А.Ревин

Заказ 2487/43

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проект«ля, 4

Тираж 847 Подпис ное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открьггий

113035, Иосква,. Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

l) 1(1