PatentDB.ru — поиск по патентным документам

МИХАЙЛОВ ОЛЕГ МИХАЙЛОВИЧ

Изобретатель МИХАЙЛОВ ОЛЕГ МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для загрузки

Устройство для загрузки

  Союз Советских Социалистических Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СеоИДИТИЛЬСТВМ (61) Дополнительное и авт. свид-ву (22) Заявлено01 04.76 (21) 2341240/08 с присоединением заявки №(23) Приоритет (и) Ь69429 (51) М. Кл. В 23 Q 7/00 Государстеенный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (43) ОпУблиновано25.08.77.БюллетЕнь № 31 (53) УДК162-22...

569429

Устройство для крепления абразивных брусков

Устройство для крепления абразивных брусков

  СОюэ СОВВтских Социалистических Республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ < 2 (51) М. Кл. B 24 В 45/00 Государственный комнтет Совета Мнннстров СССР оо делам нзооретеннй н открытнй (53) УДК 621.941, ° 3 (088. 8) (72) Авторы изобретения K Н. Мазальский и О. М. Михайлов Ленингоадское особое конструкторское бюро автоматов и револьверных станков (71) Заявите...

633719

Загрузочное устройство

Загрузочное устройство

  Сеюа Соввтсннх Соцналнстнчаскнх Респубанк ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ < 1837753 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 05.09.79 (21) 2814771/25-08 с присоединением заявки М (23) Приоритет р1)м. к .з В 23 О, 7/02 Государственный комитет СССР ио делам изобретений н открытий Опубликовано 15.0 8) Бюллетень Но 22 (53) УДК 62-229.6 (088.8) Дата опубли...

837753

Устройство для измерения спектральных характеристик имитаторов звезд

Устройство для измерения спектральных характеристик имитаторов звезд

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК. ИМИТАТОРОВ ЗВЕЗД, состоящее из последоратель но установленных и оптически связанных между собой образцового источника , оптического ослабителя, объектива , диспергирующего элемента и фотоприемного устройства, соединенного с регистрирующим устройством, отличающееся тем, что, с целью повыщения точности измерений при одновременном...

1200136

Устройство для измерения коэффициента отражения образцов

Устройство для измерения коэффициента отражения образцов

  Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для измерения коэффициента отражения образцов из оптических и иных материалов. Цель - расширение спектрального диапазона измерений в сторону ультрафиолетового излучения и упрощение конструкции. Для обеспечения работы в области вакуумного ультрафиолета окна вакуумного фотоэлемента изготовлены из фторист...

1396009