Способ нахождения оптической и электрической осей в гальке кварца

Способ нахождения оптической и электрической осей в гальке кварца

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Класс 42h, 34 4 14849

ПЛТ : Т НЛ ИЗОБР1Т1НИ2

»»»»»»тюле»»»»»»»»»»»»»»»»м» х»»»а»

У

ОПИСАНИЕ способа нахождения оптической и злектрической осей в гальке кварца.

К патенту A. В. Шубникова и Г. Г. Яеммдейна, заявленному 11 июня

1929 года (ваяв. свид. ¹ 49024).

О выдаче патента опубликовано 31 марта 1930 года. Действие патента распространяется на 15 лет от 31 марта 1930 года.

Предмет патента.

Предлагаемое изобретение касается способа нахождения оптической и электрической осей в гальке кварца и состоит в следующем. Небольшим алмазным фрезером на случайном участке гальки, неимеющей кристаллографических очертаний, выбирается полусферическая ямка диаметром около 5 — 8 мм, тонко шлифуется наждаком и затем травится фтористоводородной кислотой. В обработанную таким путем ямку пускается параллельный пучек света, который, отражаясь от травленой поверхности ямки, дает на экране, поставленном пути лучи, так назыв. „звезду Брюстера". Изменяя положение гальки, можно получить нужную ориентировку ее оптической оси.

Изучая пьезоэлектрические свойства поверхности ямки прибором Мейснера, можно найти положение электрических осей.

Способ может применяться при изготовлении как оптических, так и пьезоз1лектрических кварцевых препаратов.

Сйособ нахождения оптической и электрической осей в гальке кварца, не имеющей кристаллографических очертаний, характеризующийся тем, что на произвольном участке гальки выбирают при помощи алмазного фрезера ямку диаметром около 5 — 8 мм, выбранную поверхность тонко шлифуют наждаком и травят фтористоводородной кислотой и, для нахождения оптической оси, в обработанную таким образом ямку направляют параллельный пучек световых лучей, который, отражаясь от травленой поверхности ямки, дает на экране, поставленном перпендикулярно пути лучей, „звезду Брюстера", при чем изменением положения гальки получают требуемую ориентировку ее оптической оси, для определения же направления электрических осей исследуют пьезоэлектрические свойства поверхности этой ямки.