PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Категория

G01N21/23 - двойное лучепреломление

Патенты в этой категории

Трубка для поляриметра

Трубка для поляриметра

  Класс 42h, 21 № 5514 ПАТЕНТ НА ИЗОБРЕТЕНИЕ ОПИСАНИЕ трубки для поляриметра. К патенту Н. М. Грюнер, заявленному 11 ноября 1926 года (ваяв. свид. № 12514). О выдаче патента опубликовано 31 мая 1928 года. Действие патента распространяется на 15 лет от 81 мая 1928 года. Предлагаемая трубка предназна- чается для поляриметрического исследования жидкостей, вращающих плоскость поляри...

5514

Способ нахождения оптической и электрической осей в гальке кварца

Способ нахождения оптической и электрической осей в гальке кварца

  Класс 42h, 34 4 14849 ПЛТ : Т НЛ ИЗОБР1Т1НИ2 »»»»»»тюле»»»»»»»»»»»»»»»»м» х»»»а» У ОПИСАНИЕ способа нахождения оптической и злектрической осей в гальке кварца. К патенту A. В. Шубникова и Г. Г. Яеммдейна, заявленному 11 июня 1929 года (ваяв. свид. ¹ 49024). О выдаче патента опубликовано 31 марта 1930 года. Действие патента распространяется на 15 лет от 31 марта 1930 года. П...

14849

Способ исследования процессов кристаллизации

Способ исследования процессов кристаллизации

  ¹ 55517 Класс 421, 3„ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛ ЬСТВУ Зарегистрировано в Бюро последующей регистрации изобретений Госплана при СНК СССР В, В. Аршинов. Способ исследования процессов кристалл Заявлено 23 марта 1938 года в НКХП за И 15828. Опубликовано 31 августа 1939 года. Предмет изобретения. Изобретение касается способа исследования процессов кристаллизации и...

55517

Способ и прибор для определения кристаллографических осей в кусках кварца произвольной формы

Способ и прибор для определения кристаллографических осей в кусках кварца произвольной формы

  ¹ 79793 Класс 42h, 21 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Ф. М. Ильин и А. А. Твльпано СПОСОБ И ПРИБОР ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИХ ОСЕЙ В КУСКАХ КВАРЦА ПРОИЗВОЛЬНОЙ ФОРМЫ Заявлено 26 февраля 1947 года в Министерство промышленности средств связи СССР за № 354595 Опубликовано 28 февраля 1950 года Предлагаемый способ позволяет определять по наблюдению фигур...

79793

Кювета для спектрофотомётрирования тонких слоев жидкости

Кювета для спектрофотомётрирования тонких слоев жидкости

  1).1 l г(l 2 !1, (д(Л:. 1(! )15() ((:(!) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ И. Л. Санин и В. Д. Никонов КЮВЕТА ДЛЯ СПЕКТРОФОТОМЕТРИРОВАНИЯ ТОНКИХ СЛОЕВ ЖИДКОСТИ Заяа>о стлклнл и и)и(>товлепнык я(з кристлл>(п!ескик всщ! с (и ((!>тористого литья, приро1ного квлрцл и (f).) вклллышл п двум крыпик. ! Ион< Сти!1 КНШ< TRX. ДОСтпжсппс тРЕб) < и! (к зл.!oj>(>B, ои!Н,lеляющ...

102158


Устройство для определения и разметки кристаллографической оси у круглых кварцевыхпластин

Устройство для определения и разметки кристаллографической оси у круглых кварцевыхпластин

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик g %И. ИМЙ Зависимое от авт. свидетельства M Кл. 426, 21 Заявлено 01.VII,1964 (№ 909614/26-10) с присоединением заявки № Государственный комитет по делам изобретений и открытий СССР Приоритет Опубликовано 01.XII.1965. Бюллетень № 24 Дата опубликования описания 26.1.1966 МПК G 02d УДК 54...

177114

Патент ссср  380170

Патент ссср 380170

  О П И С А Н И Е (и) зао17о ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДИТИЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (51) М. Кл. С 01 0. 21/40 (22) Заявлено 01.;08.69(21) 1353466/26-25 с присоединением заявки ¹â€” Гасударственный намнтет Совета Министров СССР па делам изобретений и еткрытин (32) Приоритет Опубликовано 05.11.73 Бюллетень № 45 (53...

380170

Способ измерения параметров анизотропии

Способ измерения параметров анизотропии

  СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ АНИЗОТРОШИ в нводтороюшх а нвзотропвых объектах, вкпючающий фор S П &amp; liTi мирование пинейно поляризованного, модулированнотх ) по азимуту попяризаоив просвечивающего пучка и взмерение раэ ности фаз между опорным сигналом и сит налом, всеннк/ЕйЫцййдпя регистрации рассеянного объектом взпученшг, отличающийся тем, что, с целью повышения точности...

739985

Способ определения полной разности хода при измерении параметров двупреломления кристаллов

Способ определения полной разности хода при измерении параметров двупреломления кристаллов

  Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (51)М. Кл. G 01 N 21/23 (22) Заявлено 090179 (2i) 2710559/18-25 с присоединением заявки Йо (23) Приоритет Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий Опубликовано 301280 Бюллетень 89 48 (53) УДК 535,242 (088.8) Дата опубликования опис...

792099

Поляризационно-оптическое устройстводля измерения температуры

Поляризационно-оптическое устройстводля измерения температуры

  Союз Советских Социапистическик Республик ОП ИС ИЗОВРЕ К .АВТОРСКОМУ 61судвретвееыН камвтвт СССР ав делам взавретекий н вткрнтвя Н. А. Романюк и А. М. Коскеикии ((!р(1мщР» Н к ь Л львовскнн ордена ленина государственный уинверонееу,ам и; Франк > I (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) ПОПЯРИЗАЦИОННО-ОПТИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ (6l ) Дополнитель...

807079


Устройство для измерения неодно-родностей двулучепреломления вкристаллах

Устройство для измерения неодно-родностей двулучепреломления вкристаллах

  Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 090779 (21) 2792086/18-25 (51) М 3 с присоединением заявки ¹â€” G 01 N 21/23 Государственный комитет СССР по делам изобретений н открытий (23) Приоритет Опубликовано 150581 Бюллетень Йо 18 (53)УДК 535.8 (088. 8) Дата опубликования опис...

830198

Способ дистанционного измерения температуры

Способ дистанционного измерения температуры

  Союз Советскик Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ

883672

Способ измерения двулучепреломления

Способ измерения двулучепреломления

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик ()958923 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 03.02.81 (21) 3246897/18-25 (51) М. К . G 01 N 21/23 с присоединением заявки №вЂ” Геаудэрстееиимй кемитет (23) Приоритет— СССР (53) УДК 535.511 (088.8) Опубликовано 15.09.82. Бюллетень № 34 Дата опубликования описания...

958923

Фотометрический клин

Фотометрический клин

  СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН 09) (11) (51) G01 N 21 23 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3384994/18-25 (22) 30.11.81 (46) 23.04.83. Бюл. М 15 (72) К.И.Дудкин (53) 535. 24 (088 ° 8) (56 1. Шерклифф у Поляризованный свет. М, "Мир", 1965, с. 161-191. 2 ° Патент CIA 9 214962, кл. G01...

1013828

Устройство для измерения полей микронапряжений в монокристалле

Устройство для измерения полей микронапряжений в монокристалле

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛЕЙ МИКРОЬАПРЯЖЕНИЙ В МОНОКРИСТАЛЛЕ , содержащее пЬследовательно расположенные вдоль его оптической оси источник света, поляризатор, конденсор , держатель монокристалла, объектив , анализатор, окуляр и фоторегЧистратор , отличающееся тем, что, с целью сокращения затрат времени на измерение, между конденсором и держателем монокристалла введена маска, вып...

1067416


Устройство для измерения величины двулучепреломления

Устройство для измерения величины двулучепреломления

  УСТРОЙСТЮ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ ДВУЛУЧЕПРЕЛОМЛЕНИЯ, содержащее источник монохроматического света и расположенные по ходу луча поляризационную призму, модулятор, измерительную кювету и приемник излучения, соединенный со схемой обработки сигнала, отличающееся тем, что, с целью повышения чувствительности устройства, в него дополнительно введено плоское зеркало, установленное перпен...

1099256

Способ измерения величины двойного лучепреломления полимерных материалов

Способ измерения величины двойного лучепреломления полимерных материалов

  СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ ДВОЙНОГО ЛУЧЕПРЕЛОМЛЕНИЯ ПОЛИМЕРНЫХ МАТЕРИАЛОВ, заключающийся в фотоэлектрическом измерении оптической разности фаз по интенсивности света, проходящего через образец, помещенный мезвду двумя скрещенными поляроидами, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений и обеспечения возможности выявления главных направлений полиориентаций полимерны...

1141315

Датчик температуры

Датчик температуры

  ДАТЧИК ТЕМПЕРАТУРЫ,содержащий поляризационно-оптическую систему и термочувствительный элемент , выполненный в виде обоймы с размещенной внутри нее плоскопараллельной пластиной из фотоупругого материала, снабженной регулировочным винтом, отличающийся тем, что, с целью обеспечения возможности изменения чувствительности датчика и перестройки диапазона измеряемых температур, в него в...

1182279

Способ измерения температуры

Способ измерения температуры

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в дистанционных устройствах . Целью изобретения является повыоление точности измерения температуры . Термочувствительный элемент 3, выполненный в виде пластины из анизотропного оптически активного кристалла с инверсией знака двулучепреломления и температурной зависимостью спектрального положения изотропной то...

1290097

Устройство для измерения двулучепреломления

Устройство для измерения двулучепреломления

 Изобретение относится к области поляризационно-оптических исследований и может быть использовано для бесконтактного контроля внутренних упругих напряжений в изотропных материалах. Цель изображения расширение области применения устройства и обеспечение определения осей двулучепреломления. Устройство включает монохроматический источник 1 излучения, которое, пройдя расширитель 2 светового пу...

1365898


Способ измерения двойного лучепреломления веществ

Способ измерения двойного лучепреломления веществ

  Изобретение относитсяк конт- { ольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля параметров анизотропных материалов. Цель - повьшение ч-очности измерений. Для этого образец 11 облучают монохроматическим пбляризованйым пучком света. Одновременно на свет воздействуют щелью, образованной двумя полуплоскостями 3, смещенными в направлении распространения света, В щели...

1383162

Способ измерения двупреломления в полупроводниках

Способ измерения двупреломления в полупроводниках

  Изобретение относится к оптике и может быть использовано в полупроводниковой и электронной промышленности. Цель - повышение точности и производительности измерения двупреломления. В способе измерения двупреломления в по.чупроводниках пропускают излучение, модулированное по азимуту плоскости поляризации, через образец 4 и компенсатор 6 при двух ориентацпях скрещенного положения по...

1413490

Фотоэлектрический способ измерения двупреломления в оптически прозрачных материалах

Фотоэлектрический способ измерения двупреломления в оптически прозрачных материалах

  Изобретение относится к оптике и предназначено для измерения поляризационных характеристик веществ. Целью изобретения является повышение точности измерений. Кбмпенсационный способ измерения дв преломления осно ван на преобразовании исходно линейно поляризованного излучения, падающего на объект 5, в эллиптически поляризованное, что достигается при помощи компенсатора 4, При достиж...

1469390

Способ измерения двойного лучепреломления веществ

Способ измерения двойного лучепреломления веществ

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано, например, в производстве полимерных пленок и волокон при исследовании нелинейно-оптических и лазерных кристаллов. Целью изобретения является повышение точности и упрощение измерений. Рабочий и компенсационный пучки пропускают через вращающийся анализатор и деполяризатор, с помощью общего фотоприемн...

1495689

Способ определения полной разности хода при измерении параметров двупреломления кристаллов

Способ определения полной разности хода при измерении параметров двупреломления кристаллов

  Изобретение относится к изменениям в оптике и может быть использовано для определения абсолютных значений двупреломлений кристаллов при исследовании их физических свойств. С целью повышения точности определения разности хода для монохроматического света, а также упрощения способа исследуемый кристалл, представляющий собой плоскопараллельную пластинку, одна из поверхностей которой...

1518729