Способ магнитографического контроля и устройство для его осуществления

Способ магнитографического контроля и устройство для его осуществления

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов. Цель изобретения - повышение информативности магнитографического контроля. Для достижения цели на контролируемое изделие укладывается магнитный носитель. Располагая магнитный носитель под различными углами в пределах от 0 до 90° и сравнивая полученные магнитограммы, определяют качество изделия. Способ реализуется с помощью устройства, содержащего набор отрезков 3 магнитных лент, вставляемых в пазы 4 упругой эластичной ферромагнитной основы 2. 2 с.п. ф-лы, 1 з.п. ф-лы, 4 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) рц С 01 N 27/85

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4460366/25-28 (22) 20.06.88 (46) 23.03.90. Бюл. Р 11 (71) Могилевский машиностроительный институт (72) В. А. Романов, А. M. 1 1арова, А. А. Давыдков и С. И. Выборненко (53) 620. 1 79. 1 4 (088. 8) (56) Авторское свидетельство СССР

Р 785726, кл. G 01 N 27/85, 1980.

Авторское свидетельство СССР

Р 1310707, кл. G 01 N 27/85, 1987. (54) СПОСОБ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (57) Изобретение относится к магнит2 ной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов.

Целью изобретения является повышение информативности,магнитографического контроля. Для достижения цели.на контролируемое изделие укладывается магнитный носитель. Располагая магнитный носитель под различными углами в пределах от О до 90 и сравнивая по.".лученные магнитограммы, определяют качество изделия. Способ реализуется с помощью устройства, содержащего набор отрезков 3 магнитных лент, вставляемых в пазы 4 упругой эластичной ферромагнитной основы 2. 2 с. и 1 з.п. < ф-лы, 4 ил. 9

1552084

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может ( быть использовано при контроле качества изделий иэ ферромагнитных мате5 риалов.

Целью изобретения является повышение информативности контроля эа счет распознавания количества дефектов при оценке качества изделия. 10

На фиг. 1 — 3 показана схема записи дефектов на магнитный носитель, расположенный под разными углами к поверхности изделия (Не — вектор напряженности подмагничивающего поля); на фиг. 4 †.устройство для магнитографического контроля с размещенным в нем отрезком магнитных носителей.

Устройство для магнитографического контроля содержит магнитный носитель 20

1, включающий эластичную немагнитную основу 2 H закрепленные на ней отрезки 3 магнитных лент. В основе 2 вы( полнены пазы 4 под различными углами о в пределах от О до 90 к рабочей по- 25 верхности основы, отрезки 3 магнитных лент закреплены на рабочей поверхности основы 2 и в пазах 4.с помощью немагнитных клиновидных прокладок (не показано). В процессе контроля 30 с помощью магнитного носителя проводят запись дефектов 5.

Способ осуществляют следующим образом.

Контролируемое изделие 6 намагни-! чивают П-образным электромагнитом, (не показ ан), располагают под углом ( к поверхности магнитный носитель 1, состоящий не менее чем иэ двух отрезков 3 магнитных лент под разными углами о к поверхности иэделия„ а наличие и количество дефектов определяют путем сравнения полученных магнитограмм. При этом углы расположения отрезков лент выбирают в пределах от 45

О до 90

Когда Ы, = О, отрезки магнитной ленты располагаются параллельно поверхности изделия (фиг. 1) и на него записываются все дефекты (вектора на50 пряженности полей рассеяния всех дефектов Н,1 пересекают магнитную ленту), В остальных случаях о > О. При о >

)ef.,на отрезок магнитной ленты запи- .,сываются два дефекта, При увеличении (Ы М, фиг. 31 на отрезок магнит55 ной ленты записывается поле одного дефекта. О глубине залегания дефектов судят по ширине полуволновых магнитных отпечатков полей рассеяния.

Большая ширина отпечатка соответствует большей глубине залегания дефекта.

Немагнитная основа 2 может быть изготовлена из резины, поролона, каучука и т.д. Благодаря упругости основы происходит фиксация отрезка магнитной ленты и установка ее в пазы.

Нижний отрезок крепится к основе приклеивания . Угол о4 совпадает с углом наклона прорезанных в основе пазов 4.

Крайние отрезки располагаются под уго лом 90 относительно друг друга. Использование способа позволяет определить размер, глубину залегания и количество дефектов путем сравнения магнитограмм, полученных при различных углах <6, Пример. С помощью предлагаемого способа и устройства контролируют соединение, в сварном шве которого сделаны искусственные поры— просверлены отверстия диаметром I 2 и 3 мм. При расшифровке полученных магнитограмм на нижнем отрезке ленты обнаружены сигналы от трех дефектов, на следующем — от двух, на третьем отрезке обнаружен сигнал только от дефекта диаметром 3 мм.

Формула изобретения

1. Способ магнитографического контроля, заключающийся в том, что контролируемое иэделие намагничивают с помощью П-образного электромагнита, располагают под углом к поверхности магнитный носитель, производят запись магнитного рельефа поверхности и по считанной магнитограмме определяют наличие дефектов изделия, о т л и— ч а ю шийся . тем, что, с целью повышения информативности контроля за счет распознавания количества дефектов в зоне контроля при перемещении носителя, запись рельефа контролируемой поверхности производят на магнитный носитель, состоящий не менее чем из двух отрезков магнитных лент, располагаемых под разными углами к поверхности изделия, а количество дефектов определяют путем сравнения полученных магнитограмм.

2. Способ по п. 1, о т л и ч а— ю шийся тем, что углы расположения отрезков лент выбирают в пределах 0-90

Составитель А. Бодров

Редактор И. Дербак Техред Л.Сердюкова Корректор Т. Палий

Заказ 326

Тираж 509

Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r.Ужгород, ул. Гагарина, 101

5 1 552084 6

3, устройство для магнитографичес- к рабочей поверхности, а отрезки магкого контроля, содержащее эластичную нитных лент закреплены на рабочей немагнитную основу и закрепленные на поверхности основы и в пазах с помоней отрезки магнитных лент, о т л и- щью немагнитных клиновидных проклач а ю m; е е с я тем, что в основе док. выполнены пазы под различными углами