ДАВЫДКОВ АЛЕКСЕЙ АЛЕКСЕЕВИЧ
Изобретатель ДАВЫДКОВ АЛЕКСЕЙ АЛЕКСЕЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ магнитографического контроля ферромагнитных изделий Способ магнитографического контроля ферромагнитных изделий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d25852959e269439cbd196b3da2063b3.jpg)
Способ магнитографического контроля ферромагнитных изделий
Изобретение относится к области магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий, изготовленных из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является повьш1ение информативности контроля. Цель достигается тем, что магнитоноситель представляет собой локальные ленточные датчики (ЛЛД) 2, которые вставляются в продольные пазы основы 1 с задан...
1310707![Контрольный образец для магнитной дефектоскопии Контрольный образец для магнитной дефектоскопии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/4c9839213ec40ac2e58f53bbcfd7c4f1.jpg)
Контрольный образец для магнитной дефектоскопии
Изобретение относится к неразрущающему контролю и может быть использовано для магнитографической дефектоскопии качества изделий из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей контрольных образцов. Цель достигается тем, что контрольный образец выполнен из планок 1 переменного сечения, соединен ных сварным швом 2 также переменного се...
1388777![Способ магнитографического контроля изделий Способ магнитографического контроля изделий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7f15cd87822cabb0dc0df4ecdc652f3a.jpg)
Способ магнитографического контроля изделий
СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИ К РЕСПУБЛИН (51) 4 G 01 N 27/85 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ И А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТБЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 42 15681/25-28 (22) 25.03.87 (46) 07.09.88. Бюл. В 33 (71) Могилевский машиностроительный институт (72) В.А.Новиков и А.А.Довыдков (53) 620.179.14 (088."8) (56) Авторское свидетельство СССР В 2960...
1422126![Намагничивающее устройство для магнитной дефектоскопии Намагничивающее устройство для магнитной дефектоскопии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b79bdaae8596696fa390fd569cec173b.jpg)
Намагничивающее устройство для магнитной дефектоскопии
Намагничивающее устройство относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий, изготовленных из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является создание намагничивающего устройства, позволяющего повысить достоверность магнитного контроля при контроле изделий трубчатой формы в диапазоне от некоторого минимального радиуса до некоторого...
1518775![Контрольный образец для магнитной дефектоскопии Контрольный образец для магнитной дефектоскопии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/54c232a536ce52571916c9c67802668e.jpg)
Контрольный образец для магнитной дефектоскопии
Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле сварных соединений из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является расширение области использования контрольного образца. Для достижения цели контрольный образец содержит планки 1 и 2, соединенные сварным швом 3 переменного сечения, и дефект 4. С обратной стороны шва укладывае...
1534381![Способ магнитографического контроля и устройство для его осуществления Способ магнитографического контроля и устройство для его осуществления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/32e782e757703ceeb0d495d36581fcb0.jpg)
Способ магнитографического контроля и устройство для его осуществления
Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов. Цель изобретения - повышение информативности магнитографического контроля. Для достижения цели на контролируемое изделие укладывается магнитный носитель. Располагая магнитный носитель под различными углами в пределах от 0 до 90° и сравнивая полу...
1552084![Устройство для магнитного контроля Устройство для магнитного контроля](https://img.patentdb.ru/i/200x200/50cb46fa212a2a454640fbc767062645.jpg)
Устройство для магнитного контроля
Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий, изготовленных из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является повышение достоверности контроля. Для этого на изделие 2 устанавливается корпус 1 из немагнитного материала. На корпус укладывается прозрачная крышка 3 из немагнитного материала, к которой прикреплены с необ...
1567966![Способ калибровки магнитных дефектоскопов и устройство для его осуществления Способ калибровки магнитных дефектоскопов и устройство для его осуществления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/bf2dec91431fa13d146908073ca67d15.jpg)
Способ калибровки магнитных дефектоскопов и устройство для его осуществления
Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов. Целью изобретения является расширение области использования за счет калибровки также и дефектоскопов, предназначенных для контроля изделий со сварным швом. Для этого на бездефектном контрольном образце 1 закрепляют пластины 2 и 3. Пластины 2 являются имитатор...
1589190![Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/46ff534f94823e835c54b6f33a4a082a.jpg)
Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов
Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей за счет имитации валика усиления сварного шва на контрольном образце. Для достижения цели устройство для калибровки магнитных дефектоскопов содержит бездефектный контрольный образец 1, две двух...
1589191![Магнитографический способ контроля качества сварных швов Магнитографический способ контроля качества сварных швов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/30e637d355d941fc06d305d0c78ea7c4.jpg)
Магнитографический способ контроля качества сварных швов
Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества сварных швов. Целью изобретения является повышение достоверности контроля за счет учета величины смещения дефекта от оси шва. Способ осуществляют следующим образом. Сравнивают магнитограммы, полученные с контролируемого шва и контрольного образца, содержащего пластину 1 с искус...
1599755![Способ магнитографической дефектоскопии и устройство для его осуществления Способ магнитографической дефектоскопии и устройство для его осуществления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f46be968927773d6000435ac16fc7b1f.jpg)
Способ магнитографической дефектоскопии и устройство для его осуществления
Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов, в частности при выявлении сквозных дефектов в процессе проверки герметичности резервуаров. Целью изобретения является повышение достоверности и информативности контроля. Для достижения цели запись магнитного рельефа на дополнительную ленту...
1612251![Контрольный образец для магнитной дефектоскопии Контрольный образец для магнитной дефектоскопии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/97379d6ff4b4bb1b4372d63149f19ca9.jpg)
Контрольный образец для магнитной дефектоскопии
Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии сварных швов и может быть использовано при контроле качества сварных швов. Целью изобретения является повышение технологических свойств контрольного образца путем расширения диапазона оценки качества двухсторонних сварных швов с переменным сечением. При контроле качества двухсторонних сварных швов штатных изделий сравнивае...
1620927![Эталонный образец для определения качества магнитных дефектоскопических материалов Эталонный образец для определения качества магнитных дефектоскопических материалов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f5bc12e44ee7dd82e6108a79264fe596.jpg)
Эталонный образец для определения качества магнитных дефектоскопических материалов
Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии и может быть использовано при оценке магнитных дефектоскопических материалов. Целью изобретения является расширение технологических возможностей образца за счет регулировки напряженности магнитного поля на внешней поверхности эталонного образна Для достижения цели оценку качества порошка производят по двум шкалам, имеющим...
1629831![Способ намагничивания при контроле односторонних сварных соединений Способ намагничивания при контроле односторонних сварных соединений](https://img.patentdb.ru/i/200x200/3581e1edbdb8fb4d7810ddbdd9bb2584.jpg)
Способ намагничивания при контроле односторонних сварных соединений
Изобретение относится к магнитной дефектоскопии. Цель изобретения - повышение надежности контроля за счет подмагничивания его с помощью пластин от стыка до другого края, включая и ueniji кривизны сварного шва, постоянным по nt.in чине магнитным полем. Для достижения цели пластины 3, 4 со скосом перед расположением стыка в центре кривизны uv ления шва перемешают от одного v.oi лен...
1629832![Намагничивающее устройство для магнитографического контроля сварных соединений Намагничивающее устройство для магнитографического контроля сварных соединений](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d37f68e86b82d9426b3a4e4b0712f3b8.jpg)
Намагничивающее устройство для магнитографического контроля сварных соединений
» iI СОЮЗ СОГЗЕТСКИХ СО!(ИАЛИС!ИНДСКИХ РГС1 1УС ЛИК
1635114![Способ магнитографического контроля сварных швов Способ магнитографического контроля сварных швов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/04ca738a7f2b69d0abc8f40bd4aafe4a.jpg)
Способ магнитографического контроля сварных швов
Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий и протяженных сварных швов из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является повышение достоверности контроля за счет уменьшения влияния на величину сигнала изменений высоты валика усиления шва в процессе перемещения намагничивающего устройства. В способе провод...
1647374![Контрольный образец для магнитной дефектоскопии Контрольный образец для магнитной дефектоскопии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/99635cad75aa3b7286e6a5717fc641e6.jpg)
Контрольный образец для магнитной дефектоскопии
Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов, Целью изобретения является расширение области ИСПОЛЬЗОВАНИЯ и точности имитации за счет расширения диапазона имитируемых дефектов и снижения полей рассеяния в зоне имитируемого дефекта. Цель достигается тем, что каждая из двух сопрягаемых частей об...
1658069![Способ магнитографического контроля сварных швов Способ магнитографического контроля сварных швов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0c0435704ff67aa3d3678232acb4181d.jpg)
Способ магнитографического контроля сварных швов
Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано для обнаружения внутренних дефектов сварных швов магнитографическим методом . Цель изобретения - повышение чувствительности за счет отстройки от помех, обусловленных поверхностными неоднородностями сварного шва, - достигается благодаря тому, что после совместного намагничивания изделия и магнитной ленты, ра...
1677600![Способ магнитографического контроля Способ магнитографического контроля](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ff8351f47c9afd39b5d53cf9ffae244d.jpg)
Способ магнитографического контроля
Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано для контроля качества стыковых сварных соединений из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является повышение точности контроля за счет намагничивания изделия комбинацией постоянного и переменного с убывающей амплитудой полей, обеспечивающих получение области безгистерезисного намагничивания контроли...
1698734![Способ магнитографического контроля Способ магнитографического контроля](https://img.patentdb.ru/i/200x200/cc0e4bda99b777530b916c7e0b33b4f3.jpg)
Способ магнитографического контроля
Изобретение относится к области магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества сварных соединений. Целью изобретения является повышение достоверности магнитографического контроля сварных соединений . Для этого намагничивают контролируемое сварное соединение совместно с магнитной лентой, уложенной на его поверхности постоянным магнитным полем и ср...
1727043![Устройство для магнитного контроля Устройство для магнитного контроля](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e93c4ff3906da89ed2050f90730346ba.jpg)
Устройство для магнитного контроля
Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано для контроля качества из- ,делий из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является повышение достоверности магнитного контроля радиусных изделий. Устройство для магнитного контроля ферромагнитного изделия содержит корпус 2 в виде прямоугольной рамки, магнитные индикаторы 3, представляющие собой резин...
1739276![Способ магнитографического контроля сварных соединений Способ магнитографического контроля сварных соединений](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d25b9ddce74f8dff389e006a560e1dab.jpg)
Способ магнитографического контроля сварных соединений
Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле сварных л V соединений. Целью изобретения является повышение чувствительности магнитографического контроля. На контролируемый участок сварного шва изделия 1 укладывают магнитную ленту 2. Затем на валик шва с уложенной на него лентой укладывают токопроводящую пластину 3 в изоляции. Изде...
1760439![Магнитная лента для магнитографического контроля Магнитная лента для магнитографического контроля](https://img.patentdb.ru/i/200x200/dd89470d762672532d99db6b361c389a.jpg)
Магнитная лента для магнитографического контроля
Изобретение относится к магнитографическому контролю и может быть использовано при контроле качества изделий из высококоэрцитивных ферромагнитных материалов . Цель изобретения - повышение коэрцитивной силы магнитной ленты. В магнитной ленте, содержащей немагнитные участки, они выполнены в виде сетки прямоугольной формы. 1 ил. СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (51)5...
1793360