Способ магнитографического контроля сварных швов

Способ магнитографического контроля сварных швов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий и протяженных сварных швов из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является повышение достоверности контроля за счет уменьшения влияния на величину сигнала изменений высоты валика усиления шва в процессе перемещения намагничивающего устройства. В способе проводят сканирование валика протяженного сварного шва магнитным полем, создаваемым с помощью подмагничивающих пластин-концентраторов 4, установленных на полюсах электромагнита 1 со скосом, тангенциальным поверхности изделия, от минимального зазора относительно минимальной высоты валика усиления шва до максимального зазора над наибольшим валиком усиления шва. 2 ил. Ј О 4Ьь VI со VI fcb

СОЮЗ СО8ЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (s»s G 01 N 27/85

ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4442810/28 (22) 20.06.88 (46) 07.05.91. Бюл. N. 17 (71) Могилевский машиностроительный институт (72) В.А.Романов, А.М.Шарова и А.А.Довыдков (53) 620.179.14 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 1196746, кл. G 01 N 27/85, 1985, Авторское свидетельство СССР

М 1422125, кл. G 01 N 27/85, 1987. (54) СПОСОБ МАГНИТОГРАФИ lECKOf О

КОНТРОЛЯ СВАРНЫХ ШВОВ (571 Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий. Б.0. „1647374 А1 и протяженных сварных швов иэ ферромагнитных материалов. Целью изобретения является повышение достоверности контроля за счет уменьшения влияния на величину сигнала изменений высоты валика усиления шва в процессе перемещения намагничивающего устройства. В способе проводят сканирование валика протяженного сварного шва магнитным полем, создаваемым с помощью подмагничивающих пластин-концентраторов 4, установленных на полюсах электромагнита 1 со скосом, тангенциальным поверхности изделия, от минимального зазора относительно минимальной высоты валика усиления шва до максимального зазора над наибольшим валиком усиления шва, 2 ил. i 647374

10

25

35

50

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества иэделий иэ ферромагнитных материалов.

Целью изобретения является повышение достоверности контроля за счет уменьшения влияния на величину сигнала изменений высоты валика усиления сварного шва в процессе перемещения устройства.

На фиг,1 показано устройство для реализации способа, общий вид; на фиг,2 — вид

А на фиг,1.

Способ осуществляется устройством, содержащим электромагнит 1 с обмоткой 2, на полюсах 3 которого размещены подмагничивающие пластины-концентраторы 4 со скосами 5, скрепленные с помощью болтов

6 с полюсами электромагнита. Пластиныконцентраторы 4 установлены вдоль сварного шва под углом, причем один край пластины установлен на высоте, соответствующей минимальной высоте шва изделия, а второй — на высоте h = Свах + n, где Свах — максимальное значение высоты сварного шва;

n — величина наибольшего подъема подмагничивающих пластин-концентраторов над максимальным усилением шва и равная 4.

Устройство 8 процессе контроля перемещается по изделию 7 с помощью колес 8, На сварной шов при контроле укладывается магнитная лента 9.

Способ осуществляют следующим образом.

На контролируемое изделие 7 укладывают магнитную ленту 9, перемещают электромагнит 1 по изделию вдоль сварного шва, одновременно намагничивая его. Намагничивая шов с уложенной лентой, производят запись магнитного рельефа шва на магнитную ленту, а качество изделия опре.деляют по считанной магнитограмме.

Учитывая, что электромагнит 1 передвигается вдоль шва и подмагничивающие пластины-концентраторы расположены на полюсах под углом к контролируемой поверхности, при передвижении электромагнита нужный Sasop обеспечивается при любой высоте усиления сварного шва, так как концентратор расположен под углом и обеспечивает изменение зазора между ним и контролируемым иэделием от Св п до Свах + и, Пример. Для реализации предлагаемого способа контроля использовали стальной лист (материал Ст.3) размером 3200 х х630 х 6 мм, на котором наплавлен сварной шов. Пределы изменения высоты усиления шва 1,0 — 2,3 мм, т.е. Cm n = 1.0 Свах = 2 3 мм, 8 образце выполнены три одинаковых дефекта внутренней поверхности (со стороны, обратной валику усиления) в точках, где

C> = 1,0мм, Cz=-2,3 мм и Сэ= 1,7мм. Из-за колебания высоты усиления С дефекты находятся на разной глубине от поверхности . шва, которая равна 2, 4,7, 5,3 мм. Для контроля предлагаемым способом устанавливают концентраторы под углом. При этом

hmln = Cmln = 1 мм, а hmax = Свах + h = 2,3 +

+ 4 = 6,3 мм. В результате контроля обнаружены три дефекта, причем на экране дефектоскопа зафиксированы одинаковые по амплитуде сигналы.

Предложенный способ позволяет контролировать протяженные швы с изменяющейся геометрией с высокой чувствительностью беэ дополнительной переналадки.

Формула изобретения

Способ магнитографического контроля сварных швов, заключающийся в том, что магнитную ленту размещают на сварном шве между полюсами П-образного магнита, проводят запись магнитного рельефа сварного шва и по результатам считывания магнитограммы определяют его качество, о тличающийся тем,что,сцельюповышения достоверности контроля за счет уменьшения влияния на величину сигнала изменений высоты валика усиления сварного шва, проводят сканирование шва тангенциальным магнитным полем ортогонально поверхности изделия от минимального зазора, равного минимальной высоте валика усиления, до максимального зазора, величина которого выбрана иэ условия Серахс+ и, где Смаке — максимальное значение высоты сварного шва;

n — величина наибольшего подъема подмагничивающих пластин-концентраторов над максимальным усилением шва, 1647374

Фиг. Р

Составитель A. Бодров

Техред М.Моргентал Корректор И, Муска

Редактор А. Шандор

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Заказ 1393 Тираж 407 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035. Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5