Контрольный образец для магнитной дефектоскопии

Контрольный образец для магнитной дефектоскопии

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов, Целью изобретения является расширение области ИСПОЛЬЗОВАНИЯ и точности имитации за счет расширения диапазона имитируемых дефектов и снижения полей рассеяния в зоне имитируемого дефекта. Цель достигается тем, что каждая из двух сопрягаемых частей образца выполнена со ступенькой на поазрхио предназначенной для сопряжения, а сип. гаемые части установлены с вээможнзст взаимного перемещения в маправтеьии, совпадающем с направлением искусственного дефекта. 1 з.п. ф-лы, 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (э1)э G 01 N 27/82

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

3%006

0й1;ИЫ- T

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ! о

I (у

I00

О ос Q

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4663810/28 (22) 16,03.89 (46) 23.06.91, Бюл. N 23 (71) Могилевский машиностроительный институт (72) А.М.Шарова, А.А.Давыдков, А,Я.Тетерко, C.È.Âûáoðíåíêî и А.П.Магилинский (53) 620.179.14 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 1467488, кл. G 01 N 27/82, 1989.

Авторское свидетельство СССР

М 1439479, кл. G 01 N 27/82, 1988. (54) КОНТРОЛЬНЫЙ ОБРАЗЕЦ ДЛЯ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ

Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов.

Целью изобретения является расширение области использования ээ счет расширения диапазона имитируемых дефектов и повышение точности имитации зэ счет снижения искажений поля рассеяния в зоне имитируемого дефекта.

На фиг.1 показан контрольный образец, общий вид; на фиг.2 — то же, с пластинами, выполненными в виде клиньев; на фиг.3— контрольный образец, поперечное сечение, Контрольный образец содержит пластину из двух сопрягаемых частей 1 и 2, каждая иэ которых представляет пленку с имитатором сварного швв, На предназначенной для сопряжения стороне каждой части пластиЫ2 1б58069 А1 (57) Изобретение относится к магнитной дефектосконии и может быть использовано при контроле качества иэделий мэ ферромагнитных материалов, Цег, ью изобретения является расширение области использования и точности имитации эа счет расширения диапазона имитируемых дефектов и снижения полей рассеяния в зоне имитируемого дефекта. Цель достигается тем, что каждая из двух сопрягаемых честей образ«а выполнена со ступенькой на поеерхно<:т. предназначенной для сопряжения, в соп, гаемые части установлены с воэмож, ест: взаимного перемещения в направлении, совпадающем с направлением искусстее ного дефекта. 1 з,п. ф-лы, 3 ил. ны выполнена ступенька 3, имитирующая дефект. Сопрягаемыв части образца установлены с возможностью взаимного перемещения в направлении, соваадаюи,ем г направлением искусственного дефекта, и в перпендикулярном направлении. Нв боковых частях пластин образца нанесены шкалы 4 и 5.

Для имитации дефектов различной глубины залегания части 1 и 2 выполнены в виде клиньев. Глубина залегания дефекта определяетсл шкалой 5,нанесенной рядом с имитатором сеарнога вва.

Контрольный ебразец используется следующим образом.

При контроле качества сварного шва сигнал, обусловленный дефектом, сравнивают с сигналом, полученным с контрольно1658069 го образца, В результате сравнения определяют качество сварного шва.

Пример. Контролировали изделие с двухсторонним сварным швом, имеющим непровар между валиками швов. Иэделие . -сваривалось с зазором 1 мм, Контроль осущЬЮМВЙи магнитографическим методом с поьвщью дефектоскопа МД-11Г и магнитной ленты И-4701, Измеряли расстояние между экстремумами нормальной составляющей поля дефекта, которое составило 5 мм.

Затем контролировали контрольный образец, предварительно установив зазор

Ь = 1 мм. В этом месте образца, где расстояние между экстремумами нормальной составляющей равнялось 5 мм, по шкале определили глубину залегания дефекта 4 мм. Таким образом, глубина залегания дефекта в изделии равняется также 4 мм.

Затем сравнивали максимумы тангенциальной составляющей напряженности иагнитного поля дефекта иэделия и образца. Большое значение максимума у иэделия свидетельствует о большей величине дефекта s нем, Величина искусственного дефекта в контрольном образце составляла 1,5 мм, следовательно, в изделии дефект имеет величину, большую чем 1,5 мм, Применение изобретения позволит расширить технологические воэможности

5 контрольного образца эа счет имитации большего диапазона различных дефектов.

Формула изобретения

1. Контрольный образец для магнит10 ной дефектоскопии, содержащий пластину иэ двух сопряженных одна с другой частей и имитатор дефекта, отличающийся тем, что, с целью расширения области использования за счет расширения диапаэо15 на имитирующих дефектов и повышения точности имитации, поверхность сопряжения каждой части выполнена со ступенькой. а части установлены с воэможностью взаимного перемещения в направлении, 20 совпадающем с направлением искусственного дефекта.

2. Контрольный образец по п.1, о т л ич à ю шийся тем, что пластины сопрягаемых частей выполнены в виде клиньев и

25 установлены с возможностью перемещения также и в направлении, перпендикулярном направлению искусственного дефекта.

1658069

Составитель А, Бодров

Редактор О, Юрковецкая Техред М.Моргентал

Корректор А.Леонова ю

Производственно-издательский HаT "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101

Заказ .1711 Тираж 409 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5