Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов

Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей за счет имитации валика усиления сварного шва на контрольном образце. Для достижения цели устройство для калибровки магнитных дефектоскопов содержит бездефектный контрольный образец 1, две двухпроводные линии 2 и 3, соединенные и источниками 4 и 5. Расстояние между проводниками внешней двухпроводной линии 2 выбирается равным ширине сварного шва, а расстояние между проводниками внутренней двухпроводной линии равно ширине минимального дефекта в контролируемом изделии. Направление тока во внутренней двухпроводной линии 3 выбирается таким, чтобы создаваемое магнитное поле между проводниками было противоположно направлению внешнего поля Н 0. 1 з.п.ф-лы, 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (19) SU (Ill

А2 рц5 С О1 И 27/82

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А,ВТОРСНОМ .Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГННТ СССР (61) 91)305 (21) 4463195/25-28 (22) 19,07. 88 (46 ) 30,08.90. Бкл. К 32 (71) Могилевский машиностроительный институт (72) А.А.Давыдков, А.М.Шарова и В.И.Сохни (53) 620. 179. 14 (088. 8) (56 ) Авторское свидетельство СССР

М 91 1305 1 кл. G 01 N 27/82 э 1982 ° (54 ) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КАЛИБРОВКИ МА1 НИТНЫХ ДЕФЕКТОСКОПОВ (57) Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии и может быть использовано дпя калибровки магнитных дефектоскопов. Целью изобретения является расширение функциональ2 ных возможностей за счет имитации валика усиления сварного шва на контрольном образце, Дпя достижения цели устройство для калибровки магнитных дефекто скопов содержит беэдефектный контрольный образец 1, две двухпроводные линии 2 и 3, соединенные с источниками 4 и 5. Расстояние между провод никами внешней двухпроводной линии 2 выбирается равным ширине сварного шва, а расстояние между проводниками внутренней двухпроводной .линии равно ширине минимального дефекта в контролируемом изделии. Направление тока во внутренней двухпроводной линии 3 выбирается таким, чтобы создаваемое маг-, нитное поле мюкду проводниками био противоположно направлению внешнего поля Н,, 1 з пфлы, 2ил. (::! 589191

Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии и может быть спользовано цля калибровки магнитных ефектоскопов.

Целью изобретения является расширение области использования за счет капибровки также и дефектоскопов, контролирующих изделия со сварным швом. 1О На фиг, 1 приведена схема устройства; на, фиг. 2 — распределение магнитных полей цефекта, вапика сварного

Шва при намагничивании образца полем

Йо перпендикулярно его поверхности.

У стр ойство содержит контр ол ьный образец 1 без дефекта, две двухпроводные линии 2 и 3, соединенные с источниками тока 4 и 5 соответственно, Расстояние между проводниками цвухпровод-20

Ной линии 2 больше, чем расстояние

Между проводниками первой, и выбираЕтся равным ширине сварного шва h, а расстояние между провоцниками первой двухпроводной линии равно ширине

Минимального прецполагаемого цефекта в контролируемом иэцелии.

Устройство работает слецующим образом, Образец 1 без дефекта намагничива- 30 ется полем Н перпендикулярно поверхО ности, От источников 4 и 5 тока по двухпроводным линиям 2 и 3 пропускают электрический ток в противоположных направлениях. Направление тока во

35 внутренней двухпроводной линии 3 выбирается таким, чтобы создаваемое магнитное поле между проводниками было противоположно направлению внешнего поля Н, После установки необходимых 4

О значений тока в двухпроводных линиях . на поверхность устройства устанавливают датчик магнитного дефектоскопа (не показан) и перемещают его в направлении, пересекающем двухпроводные 45 линии 2 и 3. При прохождении датчика по цвухпровоцной линии 3 регулируют чувствительность магнитного дефектоскопа так, чтобы дефектоскоп выявлял заданный дефект.

Пример, Калибруют магнитографический дефектоскоп МД-11Г цля контроля сварного изделия толщиной 6 мм с размерами усиления сварного шва Ь"

15 мм и с=2 мм при параллельном намагничивании. Необходимо выявить дефекты раскрытия более. 0,5 мм, Используют устройство, содержащее бездефектный образец толщиной 6 мм и цве двухпроводные линии, расстояния между провоцниками которых соответственно равно 15 и О,5 мм. Затем на пластины укладывают магнитную ленту

И-4701-35 ° Образец намагничивают внешним полем Ц>=250 А/см, а по линии пропускают ток: 100А по внешнейи 15А по внутренней. Ленту считывают на дефектоскопе,Ручкой "Чувствительность" цобиваются устойчивого сигнала, обусловленного полем узкой линии.

Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов позволит калибровать,цефектоскопы, предназначенные для контроля изделий со сварными швами, за счет имитации валика усиления сварного шва на калибровочном конт-,. рольном образце без дефекта.

Фор мул а изобретения

Устройство цля калибровки магнитных дефектоскопов по авт.св, М 911305, отличающеесятем,что,с целью расширения области использования за счет калибровки также и дефектоскопов, предназначенных для контроля изделий со сварным швом, оно снаб.— жено второй двухпроводной линией, закрепленной на поверхности контрольно-. го образца в одной плоскости и параллельно первой двухпроводной линии, и подключенным к второй двухпроводной линии вторым источником тока, а рас;. стояние между проводниками второй двухпроводной линии больше, чем расстояние между провоцниками первой двухпроводной линии.

1589191

Составитель А,Бодров

Техред М.Дидык .

Корректор С, Черни

Редактор Л, Веселовская Заказ 2537 Тираж 512 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СЧСР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101